新品分享 | 火花直讀光譜儀：全譜直讀，20秒快速精準(zhǔn)分析←點(diǎn)擊前方鏈接進(jìn)行詳細(xì)了解

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在金屬材料分析領(lǐng)域，快速、精準(zhǔn)的元素檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量控制至關(guān)重要。傳統(tǒng)分析方法往往流程復(fù)雜、耗時(shí)長(zhǎng)，而優(yōu)云譜近日全新推出的火花直讀光譜儀（YP-OES型），憑借其高性能CMOS探測(cè)器、全譜真空光學(xué)系統(tǒng)與智能分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了多基體金屬材料的快速、精準(zhǔn)成分分析，為冶金、鑄造、質(zhì)檢等行業(yè)提供了可靠的檢測(cè)新方案。

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

YP-OES火花直讀光譜儀是一款基于全譜直讀技術(shù)的金屬分析儀器，適用于鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基等多種金屬材料的元素成分分析。儀器采用帕型-龍格羅蘭圓全譜真空光學(xué)系統(tǒng)，配合高性能CMOS探測(cè)器，可在20秒左右完成樣品分析，具備高精度、高穩(wěn)定性與高重復(fù)性的分析能力。

二、工作原理

儀器通過(guò)火花放電激發(fā)樣品表面，使樣品中各元素原子發(fā)生躍遷并發(fā)射特征光譜。光信號(hào)經(jīng)四面光柵分光后，由CMOS探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，再由專業(yè)分析軟件進(jìn)行全譜解析，實(shí)現(xiàn)元素的定性與定量分析。整個(gè)過(guò)程自動(dòng)完成，支持智能扣背景、扣干擾、扣暗電流等算法，提升分析準(zhǔn)確性。

三、主要特點(diǎn)

全譜真空光學(xué)系統(tǒng)：光路直通設(shè)計(jì)，有效降低損耗，穩(wěn)定性強(qiáng)，波長(zhǎng)范圍覆蓋140~680nm。

高性能CMOS探測(cè)器：兼具CCD全譜分析與PMT高靈敏度優(yōu)勢(shì)，對(duì)非金屬元素具有極低檢測(cè)限。

開(kāi)放式樣品激發(fā)臺(tái)：適應(yīng)不同形狀與尺寸樣品，配合噴射電極與自吹掃氣路，氬氣消耗更低。

全數(shù)字激發(fā)光源：支持火花、電弧及組合激發(fā)模式，最高放電電流400A，頻率1000Hz，適應(yīng)多種分析需求。

智能分析軟件：具備全譜圖形化分析、自動(dòng)診斷、數(shù)據(jù)查詢與報(bào)告輸出功能，操作便捷。

四、應(yīng)用價(jià)值

冶金與鑄造：用于爐前快速分析、成分控制與產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)。

質(zhì)檢與科研：支持新材料研發(fā)、來(lái)料檢驗(yàn)與失效分析。

機(jī)械制造與汽車：確保零部件材料成分符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

再生資源回收：實(shí)現(xiàn)廢金屬材料的快速分類與成分鑒定。

總結(jié)

YP-OES火花直讀光譜儀以全譜直讀、快速分析、智能操作為核心優(yōu)勢(shì)，將先進(jìn)的光電技術(shù)與數(shù)字分析系統(tǒng)相結(jié)合，為用戶提供高效、可靠的金屬成分分析解決方案。它不僅提升了檢測(cè)效率與數(shù)據(jù)可靠性，也為各類金屬材料相關(guān)行業(yè)的工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。